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      ICT測試盲點原因分析

      時間:2020-08-25| 作者:admin


      [敏感詞]由ICT測試設備廠家深圳市黄瓜视频在线观看免费發測試儀器有限公司為大家分析ICT測試盲點的原因。 

       

      1.當電阻與跳線並聯時,無法測量電阻

       

      2.無法測量與跳線並聯的電感(或變壓器,繼電器)。

       

      3.電感的錯誤部分是跳線或短路,無法測試。

       

      4.小型電容器與小型電阻器並聯連接,無法測量小型電容器。

       

      5.電感與電阻器或電容器及其他組件並聯連接。電阻或其他組件無法測量。

       

      6.二極管以相同方向並聯連接,並且檢測不到缺失的部件之一或空焊。

       

      7.不能測量與小電阻並聯組件並聯的組件。

       

      8.電容器的電容太小,測試通常不準確。

       

      9. IC,晶體振蕩器,可調電阻器(VR),熱敏電阻,浪湧吸收器和其他組件的內部性能無法測量或無法準確測試。

       

      10.二極管和晶體管與大電容器並聯連接,無法測量二極管和晶體管。

       

      11.組件的高低點在同一個短路組中,並且這些組件不可測試。

       

      12.在IC空焊測試過程中,如果被測IC的引腳和電容器並聯連接,則該引腳如果斷開則不能進行測試。

       

      13.小電容器與大電容器(C1 // C2)並聯連接,無法測量小電容器。一般來說,C2的電容是C1的10倍以上。C1是不可預測的。

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